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白光干涉仪,光学3D表面轮廓测量仪

产品/服务:
品 牌: 中图仪器
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-11-17 21:32
单价:
面议
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公司基本资料信息






  • 详细说明
  • 规格参数
SuperViewW1白光干涉仪是*款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米*测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等*域中。

 

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产品功能

1)SuperViewW1白光干涉仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;

2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;

3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;

4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;

5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;

6)分析中同时提供*键分析和多文件分析等辅助分析功能。

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应用*域

可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米*别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

 

晶圆IC减薄后的粗糙度检测.jpg

晶圆IC减薄后的粗糙度检测

 

SuperViewW1白光干涉仪采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;隔振系统能够有效隔离频率2Hz以上*大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性。

 

仪器特点

1、精密操纵手柄

集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。

2、双重防撞保护措施

除初*的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,保护仪器,降低人为操作风险。

3、双通道气浮隔振系统

既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。

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