膜厚仪镀层分析仪Thick880无损检测-X荧光光谱仪
膜厚仪镀层分析仪Thick880无损检测-X荧光光谱仪
| 产品/服务： | |
|---|---|
| 品 牌： | 佳谱仪器 |
| 有效期至： | 长期有效 |
| 最后更新： | 2024-11-17 21:32 |
(发货期限：自买家付款之日起 7 天内发货)
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| 品牌： | 佳谱仪器 |
| 探测器： | Si-pin |
| 分析范围： | 硫（S）~铀（U） |
| 检测对象： | 固体 |
￥ 60000.00
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